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반사율 /투과율 테스트 솔루션

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기본 정보
반사율 /투과율 테스트 솔루션
Specular and Diffuse Reflectance Measurement Systems for Measuring Virtually Any Sample
Gamma Scientific 반사 및 투과율 테스트에 있어서 고성능의 솔루션을
제공 합니다. 이러한 시스템은 스캔하여 박막의 완전한 분광및 색도특성을
1초 이내에 측정가능합니다.
독특하게 191F Specular Reflectometer는 뒷면 반사율 및 특성을 100%
배제하고, 0.3mm 두께의 투명한 기판에서 첫 표면 반사율을 측정할 수
있으며, 비접촉, 비파괴로 다른 substrate 의 반사율을 배제하고 두번째
표면, 두번째(중간) 표면의 반사특성을 측정할수가 있습니다.

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191F Reflectance Measurement Heads


191F 반사율 측정 헤드는 0 ~ 45º 범위의
고정 입사각 구성으로 제공됩니다. 입사각이
가변적 인 휴대용 장치도 사용할 수 있습니다.
자세한 내용은 당사에 문의하십시오. 이 모델은
유리, 플라스틱, 금속 또는 연마된 기판에 대한
첫번째 표면 또는 전체 정반사가 가능하며
0.15mm의 얇은 샘플 크기와 함께 사용할 수
있습니다.
스펙트럼 범위는 365nm에서 1100nm입니다.


GS-191-SA-1045 Semi-Auto
Reflectance Measurement System


이 반자동 gonio-reflectance 측정 시스템은
다음 위치에서 완전한 스펙트럼 및 비색
특성을 자동으로 캡처합니다. 2차 표면
마스킹없이 코팅된 유리, 연마된 기판 또는
확산 표면에 대해 동시에 0 ° 및 45 ° 입사각.
측정 포인트 당 200msec의 일반적인 스캔
시간으로 500µm의 얇은 기판을 테스트 할
수 있습니다.


GS-191-FA-1045 Rotary
Reflectance Measurement System


이 반자동 gonio-reflectance 측정 시스템은
다음 위치에서 완전한 스펙트럼 및 비색
특성을 자동으로 캡처합니다. 2차 표면
마스킹없이 코팅된 유리, 연마된 기판 또는
확산 표면에 대해 동시에 0 ° 및 45 ° 입사각.
측정 포인트 당 200msec의 일반적인 스캔
시간으로 500µm의 얇은 기판을 테스트 할
수 있습니다.

 


     

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